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MC方案|如何快速无损测量多层钙钛矿薄膜厚度?
发布时间:2020-11-13 点击次数:107次

钙钛矿广泛用于太阳能电池的开发。由于这些类型的太阳能电池具有良好的光伏性能,因此对它们进行了系统的研究。钙钛矿薄膜的厚度和形态是影响太阳能电池性能的重要因素。人们发现,特别当钙钛矿的厚度小于400nm时,钙钛矿太阳能电池的效率很大程度上取决于薄膜厚度;而当钙钛矿的厚度大于400nm时,效率则很大程度上取决于钙钛矿层的薄膜形态。在本篇方案说明中,我们使用FR-pRo VIS/NIR测量钙钛矿薄膜的厚度。

 FR-pRo VIS/NIR

测量方法:用于表征的样品是两种不同厚度的CH3NH3PbBr3钙钛矿薄膜,它们位于标准ITO/SiO2/Soda-lime基底上,如图1所示。使用ThetaMetrisis FR-pRo VIS/NIR进行反射测量,在350-1020nm的光谱范围内操作。

 结果:两种样品的典型获得的反射光谱(黑线)和拟合的反射光谱(红线),如FR监控软件所示,分别在图2a 和 图2b中所示。两种测量方法的拟合在500-750nm光谱范围内进行,样品1中钙钛矿薄膜的厚度在516.9nm处测量,而样品2中的厚度在394.4nm处测量。

 图2a:样品1的实验和拟合反射光谱,在515nm处测得的厚度。

图2b:样品2的实验和拟合反射光谱,在392nm处测得的厚度。

 

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