咨询热线

18971121198

当前位置:首页   >  产品中心   >  椭偏仪  >  

相关文章

  • SE200BM,SE300BM和SE500BM光谱椭偏仪带自动监测

    椭圆偏振光谱(SE)是一种成熟的光学技术,用于以非破坏性和非接触方式表征块状材料,薄膜,涂层,表面层和嵌入层。对于常规和晶圆厂加工质量控制,必须有一个自动盒式装卸机。为此,我们开发了一种低成本解决方案,可将晶圆尺寸从2“扩展到8”(台式),将塔式尺寸扩展到12“。用户甚至可以为每个插槽定义配方,从而为整个盒式磁带测量定义配方。

    访问次数:925
    产品价格:面议
    厂商性质:代理商
    更新日期:2024-05-17
  • SE-SOLAR光伏光谱椭偏仪

    椭圆偏振光谱仪SE-Solar专为光伏(PV)应用而设计。它可以配置为覆盖DUV到NIR范围,可以使用手动测角仪以5度间隔改变入射角,也可以配置为自动测角仪,分辨率为0.001度。基于阵列的检测设置可为用户提供快速测量,每个数据只需几秒钟。当需要映射或实时原位测量时,这是所有SE模型中的*选择。

    访问次数:1127
    产品价格:面议
    厂商性质:代理商
    更新日期:2024-05-17
  • SE-MSP光谱椭偏仪显微分光光度计

    对于某些应用(例如MEMS或半导体产品晶圆上的功能),希望有一个小的探测点。将显微分光光度计与椭圆偏振光度计集成在一起后,工具的功能将大大扩展。可通过椭圆偏振光度法在超薄膜上工作,并且还具有通过微反射法与椭圆度计和微分光光度计相结合的*配置的小面积微反射法。

    访问次数:1340
    产品价格:面议
    厂商性质:代理商
    更新日期:2024-05-17
  • TFProbe IRSE红外光谱椭偏仪IRSE

    红外光谱椭圆仪(IRSE)可以表征材料的结构(厚度,界面,表面粗糙度,污染),光学(光学常数),电(导电性)以及化学信息。

    访问次数:2176
    产品价格:面议
    厂商性质:代理商
    更新日期:2024-05-17
  • SE200/SE300/SE350/SE500光谱椭偏仪 DUV-VIS-NIR

    光谱椭偏仪可配置从DUV到NIR的波长范围。DUV范围可用于测量超薄膜,如纳米厚度范围。比如硅晶片上的原生氧化物,其通常仅为约1至2nm厚。当用户需要测量许多材料的带隙时,深紫外光谱椭偏仪也是*的。可见或近红外范围用于测量相对厚或非常厚的涂层。

    访问次数:1111
    产品价格:面议
    厂商性质:代理商
    更新日期:2024-05-17
共 5 条记录,当前 1 / 1 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 
迈可诺技术有限公司
  • 联系人:叶盛
  • 地址:洪山区珞狮南路147号未来城A栋
  • 邮箱:sales@mycroinc.com
  • 传真:
关注我们

欢迎您关注我们的微信公众号了解更多信息

扫一扫
关注我们
版权所有©2024迈可诺技术有限公司All Rights Reserved    备案号:    sitemap.xml    总访问量:504178
管理登陆    技术支持:化工仪器网