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光伏光谱椭偏仪

型    号:SE-SOLAR
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椭圆偏振光谱仪SE-Solar专为光伏(PV)应用而设计。它可以配置为覆盖DUV到NIR范围,可以使用手动测角仪以5度间隔改变入射角,也可以配置为自动测角仪,分辨率为0.001度。基于阵列的检测设置可为用户提供快速测量,每个数据只需几秒钟。当需要映射或实时原位测量时,这是所有SE模型中的zui佳选择。

光伏光谱椭偏仪产品概述:

光伏光谱椭偏仪

型号:SE-SOLAR

椭圆偏振光谱仪SE-Solar专为光伏(PV)应用而设计。它可以配置为覆盖DUVNIR范围,可以使用手动测角仪以5度间隔改变入射角,也可以配置为自动测角仪,分辨率为0.001度。基于阵列的检测设置可为用户提供快速测量,每个数据只需几秒钟。当需要映射或实时原位测量时,这是所有SE模型中的zui佳选择。如果需要,可以将波长范围扩展到1700nm,作为CdTeCIGS薄膜表征等应用的选择。倾斜台,用于测量带纹理的单晶片上的薄膜。根据需要,可以使用DUVVis-NIR组合光源或单个Arc Xenon光源。在产品照片中,配备了156x156mm的电动测绘台。此外,垂直入射的反射仪也可以集成在一起。还有其他几种选择。如果有特殊需要,请随时与我们联系。我们的目标是提供一个工具,无论它是标准配置还是定制的,都可以满足您的应用程序需求。

 

应用范围:

•抗反射涂层,SiNxSiOx ..

CdTeCIGSCdSMo ....

•非晶,纳米和晶体硅

•各种TCO膜(ITOFTOIZOAZO ...

 

特征:

•易于使用,基于Window的软件进行操作

•先进的光学设计可实现zui佳系统性能

•大功率DUV-VIS组合光源或Xenon Arc光源,适用于宽带应用

•基于阵列的探测器系统可确保快速测量

•同时测量薄膜厚度和折射率

•系统附带全面的光学常数数据库

•先进的TFProbe 3.3软件允许用户为每张膜使用NK表,色散或有效介质近似值(EMA

•三种不同的用户级别控制:工程师模式,系统服务模式和简易用户模式

•灵活的工程师模式,适用于各种配方设置和光学模型测试

•强大的一键式按钮解决方案,可进行快速和常规的测量

•可配置的测量参数,操作简便

•全自动系统校准和初始化

•直接从样品信号获得精确的样品比对接口,无需外部光学器件

•精确的高度和倾斜度调整

•适用于许多不同类型,厚度不同的基材

•各种选件,附件可用于特殊配置,例如测绘台,波长扩展,焦点等。

2D3D输出图形和用户友好的数据管理界面

 

系统配置:

型号:SE-SR-太阳能(映射阶段是可选的)

探测器:探测器阵列

光源:大功率DUV-Vis-NIR组合或氙弧灯光源

入射角变化:手动

阶段:使用XY配置自动映射

软件:TFProbe 3.3

电脑:Intel i3处理器或更高配置

显示器22英寸宽屏LCD

功率:110 240 VAC / 50-60Hz6 A

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