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椭圆偏振光谱仪SE-Solar专为光伏（PV）应用而设计。它可以配置为覆盖DUV到NIR范围，可以使用手动测角仪以5度间隔改变入射角，也可以配置为自动测角仪，分辨率为0.001度。基于阵列的检测设置可为用户提供快速测量，每个数据只需几秒钟。当需要映射或实时原位测量时，这是所有SE模型中的*选择。如果需要，可以将波长范围扩展到1700nm，作为CdTe，CIGS薄膜表征等应用的选择。倾斜台，用于测量带纹理的单晶片上的薄膜。根据需要，可以使用DUV和Vis-NIR组合光源或单个Arc Xenon光源。在产品照片中，配备了156x156mm的电动测绘台。此外，垂直入射的反射仪也可以集成在一起。还有其他几种选择。如果有特殊需要，请随时与我们联系。我们的目标是提供一个工具，无论它是标准配置还是定制的，都可以满足您的应用程序需求。

应用范围：

•抗反射涂层，SiNx，SiOx ..

•CdTe，CIGS，CdS，Mo ....

•非晶，纳米和晶体硅

•各种TCO膜（ITO，FTO，IZO，AZO ...）

特征：

•易于使用，基于Window的软件进行操作

•先进的光学设计可实现*系统性能

•大功率DUV-VIS组合光源或Xenon Arc光源，适用于宽带应用

•基于阵列的探测器系统可确保快速测量

•同时测量薄膜厚度和折射率

•系统附带全面的光学常数数据库

•先进的TFProbe 3.3软件允许用户为每张膜使用NK表，色散或有效介质近似值（EMA）

•三种不同的用户级别控制：工程师模式，系统服务模式和简易用户模式

•灵活的工程师模式，适用于各种配方设置和光学模型测试

•强大的一键式按钮解决方案，可进行快速和常规的测量

•可配置的测量参数，操作简便

•全自动系统校准和初始化

•直接从样品信号获得精确的样品比对接口，无需外部光学器件

•精确的高度和倾斜度调整

•适用于许多不同类型，厚度不同的基材

•各种选件，附件可用于特殊配置，例如测绘台，波长扩展，焦点等。

•2D和3D输出图形和用户友好的数据管理界面

系统配置：

型号：SE-SR-太阳能（映射阶段是可选的）

探测器：探测器阵列

光源：大功率DUV-Vis-NIR组合或氙弧灯光源

入射角变化：手动

阶段：使用XY配置自动映射

软件：TFProbe 3.3

电脑：Intel i3处理器或更高配置

显示器22英寸宽屏LCD

功率：110– 240 VAC / 50-60Hz，6 A

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光伏光谱椭偏仪

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