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  • FR-Scanner扫描型薄膜在线测厚仪
    品牌:希腊ThetaMetrisis 名词:膜厚仪膜厚仪、测厚仪、干涉仪、厚度测量仪 干涉仪是利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动,而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起,所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量,从而测得与此有关的其他物理量。
  • FR-pRo基础型膜厚仪(紫外/近红外-高分辨率)
    品牌:希腊ThetaMetrisis 名词:膜厚仪膜厚仪、测厚仪、干涉仪、厚度测量仪 干涉仪是利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动,而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起,所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量,从而测得与此有关的其他物理量。
  • FR-portable便携式光学膜厚仪
    品牌:希腊ThetaMetrisis 名词:膜厚仪膜厚仪、测厚仪、干涉仪、厚度测量仪 干涉仪是利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动,而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起,所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量,从而测得与此有关的其他物理量。
  • FR-uProbe微米级光学薄膜测厚仪
    品牌:希腊ThetaMetrisis 名词:膜厚仪膜厚仪、测厚仪、干涉仪、厚度测量仪 干涉仪是利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动,而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起,所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量,从而测得与此有关的其他物理量。测量精度决定于测量光程差的精
  • FR-Basic UV/NIR-HR膜厚仪

    膜厚仪

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    品牌:希腊ThetaMetrisis 名词:膜厚仪膜厚仪、测厚仪、干涉仪、厚度测量仪 干涉仪是利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动,而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起,所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量,从而测得与此有关的其他物理量。

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