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产品图片 产品名称/型号 产品描述
  • 8060/4060/PM450手动探针台
    P300J电动手动探针台:电动手动探针台,300mm,-55到300℃ P300A半自动探针台:专为低电流、亚微米定位应用而设计,300mm,-55到300℃
  • P200L/P300L电动手动探针台
    P300J电动手动探针台:电动手动探针台,300mm,-55到300℃ P300A半自动探针台:专为低电流、亚微米定位应用而设计,300mm,-55到300℃
  • P200L/P300L半自动探针台
    P200L半自动探针台:半自动探针台,200mm,-65到400℃, P300L半自动探针台:半自动探针台,300mm,-55到300℃
  • 2210-LS2210-LS 通用探针台
    2210-LS通用探针台:通用型探针台,室温可达24寸,高温或低温可达18英寸,300mm以下晶圆,温度-400到125℃
  • SPS手动系列MicroXact手动探针台
    SPS-1000,SPS-2000和SPS-2200系统是MicroXact首要的手动探针台,设计灵活且易于使用。这些手动探针系统的高性能和经济性使它们属于自己的一类。凭借高达200mm的晶圆功能,DC或RF探头和可选的热卡盘以及各种屏蔽选项,我们的探针台可用于广泛的应用,例如故障分析,可靠性测试,IV/CV测试,低目前的测试,微波和射频表征等等。
  • SPS-HS系列MicroXact高速半自动化探针台
    随着半导体变得越来越小和越来越复杂,有必要更密切地监控和控制生产,特别是在该过程的更上游。使用MicroXact的半自动探针台进行的晶圆级可靠性测试通过一系列压力测试收集数据,以识别可能影响器件长期可靠性的不规则性。尽管并非总是需要,但在晶片级可靠性测试之后可以进行进一步的和广泛的故障分析。 系统构建在一个重型,通用的平台上,能够配置为处理各种探测应用。

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