咨询热线

18971121198

当前位置:首页  >  技术文章  >  MC方案|白光反射光谱法(WLRS)测量厚膜厚度

MC方案|白光反射光谱法(WLRS)测量厚膜厚度

更新时间:2019-06-03      点击次数:1556

 

光学膜厚仪 膜厚仪、测厚仪、干涉仪、厚度测量仪

FR的工具基于白光反射光谱(Reports),准确同步的厚度测量及薄膜的折射率一个广泛的多样化的应用范围广泛的光电特性的工具和整体解决方案,如:

半导体、有机电子、聚合物、涂料和涂料、光伏、生物传感、化学传感……

FR-uProbe系列

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

迈可诺技术有限公司
  • 联系人:叶盛
  • 地址:洪山区珞狮南路147号未来城A栋
  • 邮箱:sales@mycroinc.com
  • 传真:
关注我们

欢迎您关注我们的微信公众号了解更多信息

扫一扫
关注我们
版权所有©2024迈可诺技术有限公司All Rights Reserved    备案号:    sitemap.xml    总访问量:477712
管理登陆    技术支持:化工仪器网