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MC方案|利用白光反射光谱(WLRS)膜厚仪硅膜表征
发布时间:2019-05-22 点击次数:242次

 

光学膜厚仪 膜厚仪、测厚仪、干涉仪、厚度测量仪

FR的工具基于白光反射光谱(Reports),准确同步的厚度测量及薄膜的折射率

一个广泛的多样化的应用范围广泛的光电特性的工具和整体解决方案,如:

半导体、有机电子、聚合物、涂料和涂料、光伏、生物传感、化学传感……

                              

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