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•通用的探针台 •适合未封装的集成电路、晶片和大型电路板 •-40C至125C可配置 •集成隔振平台 •定制-例如:双面探测和磁场 2210-LS型通用探针台(应用、系统、开发等)兼容专门用于将晶圆级探针能力迁移到测试板级,以协助进行后续的产品测试 2210-LS使您能够在高于和低于环境温度的情况下探测安装在测试板上的未封装集成电路,且不限制电路板使用芯片的能力,也不限制在晶圆级使用的探测能力。使用2210-LS,可以跟踪和分析仅在实际的最终应用程序环境中出现的问题,比以前更快、更容易
使用2210-LS,您可以探测: •在环境模式下测量高达24〃正方形,在温度模式下测量高达18〃。 •300毫米以下的晶圆。 •晶圆片和形状/尺寸奇怪的试样 •支持的温度范围:-40C至125C 每个2210配有: •集成隔振底座平台。 •可升级温度选项。选择-40C到125C,或环境温度。 •可选择的显微镜系统。 •大平移手动显微镜运动,JIN确精细运动。 •两个独立的可移动平台。 |
•探头支架和可选择的探针头。可从无源、有源、射频等多种选择。
产品相关关键字: 探针台 通用探针台 Probe Stations |