设为主页 加入收藏 联系我们

当前位置:

首 页 > 产品中心 > 四点探针系统
目录导航 Directory

产品展示Products

四点探针系统

型    号:
报    价: 市场价:
分享到:

这款四点探针系统是一款易于使用的工具,用于快速测量材料的薄层电阻,电阻率和电导率。 通过使用我们自己的源测量单元,我们能够创建一个低成本的系统,使测量范围更广泛。 探头采用弹簧加载接触,而不是尖锐的针头,防止损坏精密样品,如厚度在纳米左右的聚合物薄膜。

四点探针系统产品概述:

特点:

• 广泛的测量范围 - 四点探头能够提供10 nA-100 mA的电流,并且可以测量低至100μV-10 V的电压。广泛的薄层电阻测量范围,从10mΩ/□到10MΩ/□,可表征多种材料。

• 非破坏性测试 - 设计时考虑到了精密样品的测量,四点探头采用镀金弹簧接触圆头, 60克的恒定接触力,防止探针刺破脆弱的薄膜,同时仍能提供良好的电接触。

• 节省空间的设计 - 通过垂直堆叠组件,我们能够将四点探头的占地面积降至zui低(总台面面积12 cm x 30 cm),甚至可以在缺乏货架空间的实验室中使用。

• 易于使用 - 只需插入系统,安装软件,即可开始使用! 直观的界面和清洁的设计,简化了薄膜电阻的测量。

• 快速材料表征 - PC软件可执行薄膜电阻,电阻率和电导率所有必要的测量和计算,从而使材料表征变得毫不费力。

• 要忘记保存您的实验数据 - 用于测量的设置会与数据一起保存,从而轻松查看实验的详细信息。 此外,这些设置文件可以通过相同的软件加载,加快重复测量和材料表征。 用更少的时间重复测量,您的研究成果可以显着增加。

 

技术参数:

电压范围

100μV至10 V

当前范围

10 nA到100 mA

薄层电阻范围

10mΩ/至10MΩ/

测量精度

< ±4%

测量精度

±0.5%

探针间距

1.27毫

矩形样本大小范围

长边zui小值:4毫米

短边zui大值:60毫

圆形样品尺寸范围(直径)

4毫米到76.2毫

zui大样品厚度

5毫米

总体尺寸

宽度:120

高度:100

深度:300

支持的操作系统

Windows Vista,7,8和10(64位

zui小显示器分辨率

1440 x 900

建议的监视器分辨

1920 x 1080

所需的硬盘空间

400 MB

 

产品相关关键字: 探针台 薄层电阻测量系统 Ossila 测量材料表面电阻 四点探针技术

留言框

  • 产品:

  • 留言内容:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 详细地址:

  • 省份:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
电话:400-8800298
点击这里给我发消息

 
扫一扫访问手机站扫一扫访问手机站
访问手机站