四点探针系统

简要描述：这款四点探针系统是一款易于使用的工具，用于快速测量材料的薄层电阻，电阻率和电导率。通过使用我们自己的源测量单元，我们能够创建一个低成本的系统，使测量范围更广泛。探头采用弹簧加载接触，而不是尖锐的针头，防止损坏精密样品，如厚度在纳米左右的聚合物薄膜。

产品咨询联系我们

产品分类

详细介绍

特点：

• 广泛的测量范围 - 四点探头能够提供10 nA-100 mA的电流，并且可以测量低至100μV-10 V的电压。广泛的薄层电阻测量范围，从10mΩ/□到10MΩ/□，可表征多种材料。

• 非破坏性测试 - 设计时考虑到了精密样品的测量，四点探头采用镀金弹簧接触圆头， 60克的恒定接触力，防止探针刺破脆弱的薄膜，同时仍能提供良好的电接触。

• 节省空间的设计 - 通过垂直堆叠组件，我们能够将四点探头的占地面积降至zui低（总台面面积12 cm x 30 cm），甚至可以在缺乏货架空间的实验室中使用。

• 易于使用 - 只需插入系统，安装软件，即可开始使用！直观的界面和清洁的设计，简化了薄膜电阻的测量。

• 快速材料表征 - PC软件可执行薄膜电阻，电阻率和电导率所有必要的测量和计算，从而使材料表征变得毫不费力。

• 要忘记保存您的实验数据 - 用于测量的设置会与数据一起保存，从而轻松查看实验的详细信息。此外，这些设置文件可以通过相同的软件加载，加快重复测量和材料表征。用更少的时间重复测量，您的研究成果可以显着增加。

技术参数：

电压范围

100μV至10 V

产品咨询