产品分类
相关文章
椭圆偏振光谱(SE)是一种成熟的光学技术,用于以非破坏性和非接触方式表征块状材料,薄膜,涂层,表面层和嵌入层。对于常规和晶圆厂加工质量控制,必须有一个自动盒式装卸机。为此,我们开发了一种低成本解决方案,可将晶圆尺寸从2“扩展到8”(台式),将塔式尺寸扩展到12“。用户甚至可以为每个插槽定义配方,从而为整个盒式磁带测量定义配方。
红外光谱椭圆仪(IRSE)可以表征材料的结构(厚度,界面,表面粗糙度,污染),光学(光学常数),电(导电性)以及化学信息。
光谱椭偏仪可配置从DUV到NIR的波长范围。DUV范围可用于测量超薄膜,如纳米厚度范围。比如硅晶片上的原生氧化物,其通常仅为约1至2nm厚。当用户需要测量许多材料的带隙时,深紫外光谱椭偏仪也是*的。可见或近红外范围用于测量相对厚或非常厚的涂层。