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英国Agar ScientificB7348手动薄膜厚度监视器 一种紧凑,低成本,基于微处理器的薄膜厚度监视器,可与琼脂系列涂层单元配合使用。
MTM-10 &MTM-20 高分辨率薄膜厚度监视器 仅适用于Cressington Sputter和Carbon Coaters 高分辨率厚度监视器和厚度控制器基于以下原理:石英晶体的振荡频率由其上表面上的沉积膜的质量改变。电子测量该效果允许确定沉积膜的厚度。一旦将蒸发的材料的密度输入系统,就在范围为0-999.9纳米的四位LED显示器上测量厚度为0.1nm的分辨率。
品牌:希腊ThetaMetrisis 名词:膜厚仪 膜厚仪、测厚仪、干涉仪、厚度测量仪 干涉仪是利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动,而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起,所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量,从而测得与此有关的其他物理量。
品牌:希腊ThetaMetrisis 名词:膜厚仪 膜厚仪、测厚仪、干涉仪、厚度测量仪 干涉仪是利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动,而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起,所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量,从而测得与此有关的其他物理量。